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数据转换/信号处理:一种8通道12位逐次逼近式A/D转换器的设计
来源:   时间: 2007-12-20 10:34:03    

引言 

  A/D转换器是模拟系统与数字系统接口的关键部件,长期以来一直被广泛应用于雷达、通信、电子对抗、声纳、卫星、导弹、测控系统、医疗、仪器仪表、图像和音频等领域。计算机和通信产、世的迅猛发展,进一步推动了A/D转换器在便携式设备上的应用并使其有了长足进步,A/D转换器正逐步向高速、高精度和低功耗的方向发展。

  目前市场上占统治地位的A/D转换器主要是:逐次逼近式、∑-△式、流水线式。∑-△式可以实现很高的分辨率,流水线式可以保证很高的采样速率,这两种体系结构都是为了满足某种特定需求的纵向市场而设计的,而逐次逼近式A/D转换器在速度、精度、功耗和价格方面具有综合优势,因此本文串行输出A/D转换器采用逐次逼近式结构。

  逐次逼近式A/D转换器是采样速率低于5 MSPS(百万次采样每秒)的中高分辨率应用的常见结构,其分辨率一般为8位~16位,具有低功耗、小尺寸等特点,因而具有较宽的应用范围,如便携式/电池供电仪表、笔输入量化器、工业控制和数据/信号采集器等。顾名思义,逐次逼近式A/D转换器实质上是实现二进制搜索算法,内部电路可以运行在几MHz,A/D转换器采样速率是该数值的分数,主要由逐次逼近算法确定。

  本文基于上华0.6μm BiCMOS工艺设计了一个8通道12位串行输出A/D转换器,其核心电路采用逐次逼近式结构,并在总结改进传统结构的基础上,采用电压定标和电荷定标的复合式D/A转换器结构,这种“5+4+3”分段式复合结构既避免了大电容引入的匹配性问题,而且电阻的引入减小了电路本身的线性误差;比较器的实现采用多级级联的放大器结构,降低了没计复杂度。最后,基于CSMC 0.6μm BiCMOS工艺实现了整体版图设计。

1 系统结构及电路实现

  逐次逼近式A/D转换器结构电路如图1所示,主要由采样保持电路、比较器、D/A转换器、逐次逼近寄存器和逻辑控制单元5部分组成。

  转换中的逐次逼近是按对分原理,由控制逻辑电路完成的。其工作过程如下:启动转换后,控制逻辑电路首先把逐次逼近寄存器的最高位置1,其他位置0,将其存储到逐次逼近寄存器,然后经D/A转换后得到约为满量程输出一半的电压值。这个电压值在比较器中与输入信号进行比较。比较器的输出反馈到D/A转换器,并在下一次比较前对其进行修正。即输入信号的取样值与D/A转换器的初始输出值相减,余差被比较器量化,量化值再来指导控制逻辑是增加还是减少D/A转换器的输出;然后,这个新的D/A转换器输出值再次从输入取样值中被减去,不断重复这个过程,直至其精度达到要求为止。由此可见,这种数据的转变始终处于逻辑控制电路的时钟驱动下,逐次逼近寄存器不断进行比较和移位操作,直到完成LSB(最低有效位)的转换。这时逐次逼近寄存器的各位值均已确定,逐次逼近转换完成。

  由于本次设计针对是串行的多路通道转换技术,所以在逐次逼近式A/D转换器基本结构的基础上,在模拟输入前端加入多路复用模块,并在输出后端加入并串转换电路。

  为实现信号的快速精确转换,逐次逼近式A/D转换器中重要部件是采样保持电路、比较器和D/A转换器。等效输入电路如图3所示。

  在数据获取期间,被选信道作为输入给电容C保持充电,获取时间结束后,T/H开关打开,电荷维持在C保持上作为信号样本,与D/A转换中产生的模拟信号进行比较,将比较结果输人输出寄存器,在三态总线控制下串行输出最后数字位。其中比较器的实现采用三级放大器级联结构,这样就降低了比较器的设计要求,减小了设计难度,提高了电路性能。下面介绍D/A转换器的设计与实现。

  逐次逼近式A/D转换器的速度和分辨率主要受反馈电路中D/A转换器的速度、分辨率和线性的限制,精确设计D/A转换器是本设计的重点和关键。传统的逐次逼近式A/D转换器大多采用简单的电阻分压式或电容电荷型结构来实现。电阻分压式的转换器只需要用一种电阻,容易保证制造精度,即使电阻出现较大的误差,也不会出现非单调性,这是它的优点。但是,对n位二进制输入的这种结构的D/A转换器来说,需要2n个分压电阻以及同样数量的模拟开关,所以随着位数的增加,其所需元器件的数量会呈几何级数增加,这是它的缺点。这种结构单独用做一个D/A转换器的情况比较少见,但是它却在逐次逼近式A/D转换器中常用到,尤其在位数低于8位时。电容电荷式D/A转换器的优点是精度较高,但是存在面积大、对寄生电容敏感等缺点,而且还需要两相时钟,增加了设计制造的复杂度。

  传统D/A转换器电路在设计时考虑的是单一形式的电路结构,但在本设计中充分利用电阻单调性好、电容精度高的优点,避开电阻型所需开关数多及电容面积大的不利因素,因此本电路D/A转换器的实现采用复合结构,如图4所示。

  由于本芯片是一个12位精度的A/D转换器,要求D/A转换器也要达到12位精度,而且对于位数较高的转换器,从芯片面积和性能方面综合考虑,组合结构较单一结构优势显著,因而转换结构采用5+3+4复合结构实现,其中高5位MSB(最高有效位)采用电容网络实现,中间3位采用电阻网络,而低4位LSB仍用电容网络实现,这样设计避免了在不同结构实现上的不足,结合其各自优缺点,较好地实现电路性能。此D/A转换器的优点是具有一定的单调性,因为电阻串本质上是单调的,而且3个数字位只有一种阻值的电阻,不存在电阻失配问题。电阻串不需要预充电,转换速度比电容阵列的转换速度快,但芯片占用面积较大;电容网络最多只需满足5位电容比的精度要求便可实现12位转换。所以在总数中分配每段位数时,在芯片面积和转换速度之间进行折中考虑。

  单独对D/A转换器进行仿真得到的结果曲线。

  全部12位数字位的模拟输出波形图,图6为(00…0)到(11…1)跳变时的波形图,建立时间仅为12 ns。

2 设计结果

  根据电路功能及指标要求,在Cadence环境下用HSPICE对电路进行仿真。通过控制逻辑的精确控制,对选择8通道中任 一通道都能够实现12位准确转换,图7为选择第8通道对2.5 V电压进行转换的输出波形,实现了模拟信号到数字信号的正确转换。

  最后,基于CSMC 0.6μm BiCMOS工艺完成了版图设计,面积为2.5×2.2 mm2,如图8所示。

  最后设计的12位A/D转换器的特性如下:分辨率为12位;转换时间为7.5μs;零点误差为<±2LSB;增益误差为<±2LSB;线性误差为<±1 LSB;模拟输入电压为0~4.096 V;工作温度范围为-55℃~125℃。仿真条件为VDD=5.0 V,VSS=0V,Vref=4.096 V,Vagnd=0 V。

3 结束语

  本文基于CSMC 0.6μm BiCMOS工艺设计实现了一个12位串行输出的A/D转换器,采用电压定标和电荷定标组合式D/A转换器技术,比较器的实现采用多级级联放大器形式,通过合理的时序控制,实现了较好的性能,转换速率为7.5μs,正常工作电流2.8 mA,增益误差小于2 LSB,线性误差小于1 LSB,最后版图面积为2.5×2.2 mm2,此转换器对于消费电子、汽车电子及便携式产品等方面应用是具有较好性价比的选择。 


 

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